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XRF6C能量射线荧光分析仪

XRF6C能量射线荧光分析仪

更新时间:2018-12-06

简要描述:

1。XRF6C能量射线荧光分析仪是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。

1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点

(注):X射线荧光(XRF)分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可以对试样进行多元素快速分析。

  • 先进多光束可调系统;
  • 高分辨率SDD 硅漂移探测器;
  • 快速定性分析;
  • 完善的辐射安全防护;
  • RoHS/WEEE 指令元素快速分析;
  •  内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群;
  •  内置各类标准样品曲线数据库。

2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数

  • 元素分析范围:AI-U
  •  含量分析范围:1ppm~99.99%
  • 重复性:<5%
  • 测量时间:一般60~300s
  •  测量对象:块状物体、粉末、液体
  •  激发功率:50W
  • 探测器分辨率:149gev
  • 输入电源:AC110V/220V
  •  高压电源:0~50kv/0~1mA
  • X射线辐射剂量:≤1Sv/h

3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素最低检出限

代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg)

性能指标

塑料基体CrBrCdHgPb
LOD82445

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